UniEye
제품

pin hole inspector

UniScan-SP

코팅 또는 불투명 소재에 발생하는 미세 핀홀을 고속으로 검출하는 전용 검사기.

필름, 금속박, 라미네이트, 멤브레인 등에서 발생하는 핀홀 결함을 투과광 기반 조명과 고속 영상처리로 감지합니다. 전기 절연, 방습/방기 특성이 중요한 소재의 품질 관리에 적합합니다.

UniScan-SP
Pin hole and coating defect inspection reference image

01

미세 핀홀 실시간 검출

02

투과광 기반 결함 대비 향상

03

고속 R2R 라인 대응

04

검출 영역 제외/마킹 연동 가능

주요 사양

  • High-speed pinhole detection
  • Transmission lighting
  • Inline inspection
  • Defect map/report

검사항목

  • Pinhole
  • Tiny holes
  • Coating void
  • Micro defect

적용 공정

  • Coating film
  • Metal foil
  • Membrane
  • Barrier film
UniScan-SP reference 1

관련 기술

High-speed imagingOptics & lightingAI inspection algorithmsMetrology & line integration