과제
MLCC 인쇄 공정에서 미인쇄, 번짐, 핀홀, 마진 이상과 같은 반복 패턴 불량을 고속으로 검출해야 했습니다.
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MLCC / 전자부품
S사 MLCC 인쇄 검사 시스템
MLCC 인쇄 공정에서 미인쇄, 번짐, 핀홀, 마진 이상과 같은 반복 패턴 불량을 고속으로 검출해야 했습니다.
Solution
UniScan-G/PX 계열의 패턴 검사 기술과 MLCC 공정 경험을 기반으로 인쇄 패턴 자동 티칭, 결함 분류, 검사 결과 저장/리포트 구성을 적용했습니다.
성과
MLCC 인쇄 품질 검사를 자동화하고 주요 불량 유형을 공정 데이터로 추적할 수 있는 기반을 구축했습니다.
구현 포인트
- 고속 라인스캔 기반 인쇄 패턴 검사
- 미인쇄·번짐·핀홀·위치 편차 검출
- PLC 연동 및 결과 리포트
- 공정 조건에 맞춘 광학/알고리즘 튜닝
유사 공정의 검사 가능성은 샘플 이미지, 결함 유형, 라인 속도, 검사 폭을 기준으로 검토합니다.