01
确认工艺与缺陷类型
先整理检测对象、主要缺陷和产线条件。
R2R
200m/min
支持高速薄膜与涂布产线检测
Pattern
5㎛/px
MLCC 与印刷图案高分辨率检测
Metrology
0.5–60㎛
基于 OCT 的涂布/薄膜厚度测量
Integration
MES/PLC
检测结果、报告与生产数据集成
Engagement Process
工业检测不是直接购买设备,而是先确认工艺条件和样品,再评估可检测性与导入范围。
01
先整理检测对象、主要缺陷和产线条件。
02
提供正常/缺陷图像以及速度、幅宽、分辨率要求。
03
按工艺选择照明、相机、计量传感器和判定逻辑。
04
使用真实数据确认可检测性以及误判/漏判风险。
05
提出检测 UI、报告、PLC/MES 集成范围。
Solutions
即使还不知道产品名称,也可以根据工艺和缺陷类型找到合适的 UniEye 检测方案。
Products
UniEye 不只是罗列型号,而是按客户的制造问题组织产品系列,帮助买方快速找到合适的检测路径。
UniScan-S · SP · F · FishEye · UniScan-E
R2R 薄膜与涂布检测产品系列
UniScan-S · SP · F · FishEye · UniScan-E
面向高速 Web 工艺的异物、划伤、针孔、漏涂、边缘缺陷和位置偏差检测/计量产品系列。
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UniScan-G · PX · PC · PS · StampEye
MLCC 与印刷图案检测产品系列
UniScan-G · PX · PC · PS · StampEye
用于 MLCC、薄膜、包装和标识工艺中的漏印、拖墨、针孔、边距、位置偏差与 OCR/OCV 检测。
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UniScan-T · ST · TX · V
厚度与光学计量产品系列
UniScan-T · ST · TX · V
基于 OCT、干涉、共焦和激光的非接触计量产品系列,用于涂层、多层膜、透明材料和透过率。
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UniCIM · UniS-A · UniS-L
SMT 与 PCB 检测产品系列
UniCIM · UniS-A · UniS-L
支持三防漆、元件有无/方向、LED 点亮以及 Repair/SPC/MES 流程的电子制造检测产品系列。
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Motor Inspector · Die-cut Tape · PanelEye · UniView
定制视觉检测与集成产品系列
Motor Inspector · Die-cut Tape · PanelEye · UniView
按项目设计尺寸、形状、对位、旋转、模切和工艺监控等标准设备难以覆盖的检测任务。
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Technology
详细技术在独立页面说明,首页仅保留买方最先需要理解的差异化重点。
检测架构
成像 → 判定/计量 → 生产数据集成
01
High-speed imaging
Line-scan cameras, triggers, lighting control and image pipelines are configured around line speed.
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02
Optics and lighting design
Reflection, transmission, scattering and coaxial lighting are selected to maximize defect contrast.
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03
AI inspection algorithms
Rule-based judgement and deep-learning classification work together to detect, classify and reduce false calls.
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04
Metrology and line integration
OCT, 3D and thickness-metrology results connect to MES, PLC, SPC and reporting workflows.
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Success Story
每个案例都概述工艺挑战、应用的检测方式以及运营价值。
制造业 / 机器视觉
制造工艺需要在实际产线条件下稳定自动化缺陷检测与计量任务。
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制造业 / 机器视觉
制造工艺需要在实际产线条件下稳定自动化缺陷检测与计量任务。
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制造业 / 机器视觉
制造工艺需要在实际产线条件下稳定自动化缺陷检测与计量任务。
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制造业 / 机器视觉
制造工艺需要在实际产线条件下稳定自动化缺陷检测与计量任务。
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Next Step
UniEye 将一起评估可检测性、设备配置、光学/算法方向以及 MES/PLC 集成范围。
01
Send the target, line speed, defect types and sample images.
02
We review optics, lighting, algorithms, metrology and data integration scope.
03
After sample evaluation or PoC, we propose the system configuration and project scope.