工业机器视觉检测与计量

为高速制造产线定制缺陷检测与厚度计量系统。

面向 R2R、MLCC、SMT、涂布/薄膜工艺的 AI 视觉检测与精密计量系统

UniEye 会与客户一起确认检测对象、线速、缺陷类型、光学条件以及 MES/PLC 集成范围,提出适合实际量产线的检测系统。

高速成像光学与照明AI检测算法计量与产线集成
Inspection FrameRUN
DEFECT · pinhole

inspection result data

Line Scan · OCT · MES/PLC ready

R2R

200m/min

支持高速薄膜与涂布产线检测

Pattern

5㎛/px

MLCC 与印刷图案高分辨率检测

Metrology

0.5–60㎛

基于 OCT 的涂布/薄膜厚度测量

Integration

MES/PLC

检测结果、报告与生产数据集成

从样品评估到产线导入

工业检测不是直接购买设备,而是先确认工艺条件和样品,再评估可检测性与导入范围。

01

确认工艺与缺陷类型

先整理检测对象、主要缺陷和产线条件。

02

共享样品与条件

提供正常/缺陷图像以及速度、幅宽、分辨率要求。

03

评估光学与算法

按工艺选择照明、相机、计量传感器和判定逻辑。

04

样品评估或 PoC

使用真实数据确认可检测性以及误判/漏判风险。

05

提出设备与集成方案

提出检测 UI、报告、PLC/MES 集成范围。

Nexfara · Industrial Integration & Control

从设备连接到执行与运营的统一流程

EdgeOn 将旧有设备转换为标准化的可连接资产,Link 连接执行系统与上层业务系统。ACS/WCS Domain 执行领域可按项目范围选择采用 Nexfara 或对接现有/供应商系统。

查看 Nexfara 集成方案
01

EdgeOn · Link 连接与集成

02

Open Execution:ACS/WCS Domain 可选

03

Orchestrator · Monitor/Sim 运营扩展

04

基于 Correlation ID 的 E2E 追溯

按解决方案分类的代表产品系列

UniEye 不只是罗列型号,而是按客户的制造问题组织产品系列,帮助买方快速找到合适的检测路径。

UniScan-S · SP · F · FishEye · UniScan-E

R2R 薄膜与涂布检测产品系列

面向高速 Web 工艺的异物、划伤、针孔、漏涂、边缘缺陷和位置偏差检测/计量产品系列。

R2RFilmSurface defect

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UniScan-G · PX · PC · PS · StampEye

MLCC 与印刷图案检测产品系列

用于 MLCC、薄膜、包装和标识工艺中的漏印、拖墨、针孔、边距、位置偏差与 OCR/OCV 检测。

MLCCPrintingPattern

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UniScan-T · ST · TX · V

厚度与光学计量产品系列

基于 OCT、干涉、共焦和激光的非接触计量产品系列,用于涂层、多层膜、透明材料和透过率。

OCTThicknessOptical

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UniCIM · UniS-A · UniS-L

SMT 与 PCB 检测产品系列

支持三防漆、元件有无/方向、LED 点亮以及 Repair/SPC/MES 流程的电子制造检测产品系列。

PCBCoatingMES/SPC

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Motor Inspector · Die-cut Tape · PanelEye · UniView

定制视觉检测与集成产品系列

按项目设计尺寸、形状、对位、旋转、模切和工艺监控等标准设备难以覆盖的检测任务。

CustomAlignmentIntegration

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EdgeOn · Link · Orchestrator · Monitor/Sim · UniACS

Nexfara 工业集成与控制产品系列

按项目范围组合旧有设备连接(EdgeOn)、系统集成(Link)、可选的编排与监控(Orchestrator·Monitor/Sim)以及 ACS 执行领域的工业集成与控制产品系列。

IntegrationEdgeOnACS

查看产品系列 →

具体型号可在各产品系列/解决方案详情页中结合适用工艺条件查看。

Next Step

请告诉我们需要检测的工艺和样品图像。

UniEye 将一起评估可检测性、设备配置、光学/算法方向以及 MES/PLC 集成范围。

01

Share process conditions

Send the target, line speed, defect types and sample images.

02

Review feasibility

We review optics, lighting, algorithms, metrology and data integration scope.

03

Proposal and PoC

After sample evaluation or PoC, we propose the system configuration and project scope.

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